안녕하세요.
첨단분야혁신융합대학사업단입니다.
아래와 같이 반도체 분석기기(주사전자현미경) 측정 분석 교육(비교과프로그램) 참여 학생을 모집 하오니 많은 관심과 참여 부탁드립니다.
자세한 사항은 첨부된 자료를 확인하여 주시기 바랍니다.
1. 특강 개요
◦(프로그램명) 반도체 분석기기(주사전자현미경) 측정 분석 교육
◦(장소) 한국기술교육대학교 1캠퍼스 3공학관 326호(이론) 및 321호(실습)
◦(기간) 2026. 01. 09(금) / 2026. 01. 16(금) (2회 중 선택) 16일 마감
※ 참여자 중식 제공 및 수료자 대상 수료증 발급 예정
2. 주요 내용
◦ 본 프로그램은 반도체 재료 및 소자의 분석을 위해 주사전자현미경(SEM) 활용 능력을 기초부터 심화까지 학습하는 교육 과정으로 참가자는 SEM의 기본 원리와 측정 방법을 배우고, 실제 반도체 구조 및 재료를 분석하는 실습을 진행
◦ 최신 분석 기법인 FIB-SEM 단면 분석과 EDS/EBSD 연계 분석을 통해 반도체 소자의 단면 가공·관찰, 성분 및 결정 구조 분석을 체험하여 산업 현장에서 요구되는 첨단 분석 역량 강화
3. 참가 대상
◦ 한국기술교육대학교 재학생
◦ 회차별 10명(회차별 중복 신청 불가) / 선착순마감
4. 일정표
◦일자별 일정 (붙임1) 참조
5. 신청방법
◦ 참가신청서(붙임2) 작성 후 메일 제출(cosssemi@교내메일 )
◦ ◦ 제출기한: 12월 31일(수)~1월 5일(월) 18시까지
※ 선발자 대상 개별안내(1월 6일(화) 예정)
◦ 기타문의: 041-560-1045/cosssemi@교내메일
감사합니다.